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賽默飛ICP光譜儀的使用要在良好的環(huán)境下進(jìn)行

點(diǎn)擊次數(shù):880  更新時(shí)間2022-03-04  【關(guān)閉

      賽默飛ICP光譜儀主要由進(jìn)樣系統(tǒng)、電感耦合等離子體光源(ICP)、光譜儀的分光(色散)系統(tǒng)以及檢測(cè)器-光電轉(zhuǎn)換器件等部分組成。可同時(shí)檢測(cè)一個(gè)樣品中多種元素,分析速度快,固體樣品均可以直接分析,試樣多數(shù)不需要化學(xué)分析就可以處理,在幾分鐘內(nèi)可同時(shí)作幾十個(gè)元素的定量測(cè)定。由于電感耦合等離子體的新光源,檢出限可低至數(shù)量級(jí),準(zhǔn)確度*,樣品消耗的少,對(duì)于高、中、低含量的不同元素都可以同時(shí)測(cè)定。
      賽默飛ICP光譜儀的主要性能指標(biāo)是檢出限、短時(shí)間穩(wěn)定性、長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性和儀器分辯率,測(cè)試這些指標(biāo)需要幾乎一整天的時(shí)間,好在這些指標(biāo)在儀器安裝調(diào)試時(shí)是必需要做的,考察儀器時(shí),可以著重查看現(xiàn)有同類型儀器的實(shí)際驗(yàn)收?qǐng)?bào)告,以證實(shí)所考察儀器的性能指標(biāo)。
      賽默飛ICP光譜儀一定要有良好的使用環(huán)境:
      等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣,需要在一定的環(huán)境下運(yùn)行,失去這些條件,不僅儀器的使用效果不好,而且改變儀器的檢測(cè)性能,甚至造成損壞,縮短壽命。根據(jù)光學(xué)儀器的特點(diǎn),對(duì)環(huán)境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大,光學(xué)元件受溫度變化的影響就會(huì)產(chǎn)生譜線漂移,造成測(cè)定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定,一般室溫要求維持在20~25攝氏度間的一個(gè)固定溫度,溫度變化應(yīng)小于±1攝氏度。而環(huán)境濕度過(guò)大,光學(xué)元件,特別是光柵容易受潮損壞或性能降低。電子系統(tǒng),尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞。濕度對(duì)高頻發(fā)生器的影響也十分重要,濕度過(guò)大,輕則等離子體不容易點(diǎn)燃,重則高壓電源及高壓電路放電擊毀元件,如功率管隔直陶瓷電容擊穿,輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等,以至損壞高頻發(fā)生器。一般室內(nèi)濕度應(yīng)小于百分之70,控制在百分之45~60之間,應(yīng)有空氣凈化裝置。過(guò)去由于基建施工,我們的環(huán)境條件很差,甚至儀器室多次被水淹,受潮及室溫變化過(guò)大,儀器不是定位困難就是經(jīng)常發(fā)生故障。搬到新的儀器室后條件改善了,儀器運(yùn)行就正常多了。
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